電荷積分法による微小電流検出装置

半導体、デバイスなどの微小な漏れ電流（リーク電流）を検出する検査装置です。
本システムではリレー回路を用いずに、複数素子それぞれのリーク電流を同時に計測することが可能です。

技術要素

・微小電流測定10pA(レンジ999.99nA)
・多チャンネル同時計測(写真200ch)
・用途：リーク電流・消費電流等の測定
・ファームウエア、アプリケーション

ラベル検査装置　

当該製品に張り付けられたラベルをカメラで撮像し、文字認識、ラベルの欠け、めくれ、シワなどを検出するシステムです。
カメラ、およびカメラを束ねる画像コントローラにはKEYENCE社製品を用いています。

技術要素

・ハードシステム設計
・ファームウェア、アプリケーション

複数チャネル抵抗計測装置

同時に複数チャネル(最大150チャネル)の抵抗測定を行う基板検査装置です。
測定物に合わせての治具製作も承ります。

技術要素

・FPGA
・ハードシステム、低抵抗測定技術
・メカ設計製作
・ファームウェア、アプリケーション
・多チャンネル同時計測(150ch)